Miernik do pomiaru grubości powłok Leptoskop 2042 z z sondą standardową Fe NIEMIECKI

Miernik do pomiaru grubości powłok Leptoskop® Wykonanie: uniwersalny przyrząd do pomiaru grubości powłok z sondą zewnętrzną, precyzyjna technika pomiarowa i możliwość szybkiego rozbudowania urządzenia na miejscu za pomocą kodów aktywacyjnych (moduły oprogramowania „Statystyka“i „Pamięć danych“). Duży, podświetlany wyświetlacz graficzny (48 x 24 mm), duży wybór sond. Zakres pomiaru 0–20000 μm (zależny od sondy), 10 wersji językowych, interfejs USB/RS 232 i ochronna ramka gumowa. Okres eksploatacji baterii ok. 100 godzin. Dostawa z sondą Fe do 5000 μm, przyrządem kontrolnym, zestawem folii do kalibracji, instrukcją obsługi, protokołem odbioru/certyfikatem kontroli jakości, protokołem pomiarowym, literaturą fachową i 2 bateriami AA/LR06, 1,5 V, w walizce z tworzywa sztucznego. Niepewność pomiarowa (po kalibracji): grubość powłoki < 100 µm: 1% wartości pomiaru ±1 µm grubość powłoki > 100 µm: 1–3% wartości pomiaru ± 1 µm grubość powłoki > 1000 µm: 3–5% wartości pomiaru ± 10 µm grubość powłoki > 10000 µm: 5% wartości pomiaru ± 100 µm Zastosowanie: określa grubość powłok niemagnetycznych na magnetycznym materiale podłoża (Fe, zgodnie z DIN EN ISO 2178) i grubość powłok nieprzewodzących prądu elektrycznego na podłożu przewodzącym metodą prądów wirowych (NFe, zgodnie z DIN EN ISO 2360).