|  |
| |
| Nr artykułu:
3MTJS-3723403 Nr producenta:
IC51-0484-806 EAN/GTIN:
brak danych |
| |
|
| | |
| QFP - Gniazda testowe - Klamshell. Złącza testowe do końcówek QFP Sprężynowe zatrzaski pokrywy lid zawiasową, aby zachować układy scalone Łatwy, powtarzalny dostęp do celów testowych Wysoka niezawodność, trwałość i zakres temperatur Oferta obsługuje wiele różnych ofert PEI z włóknem szklanym; PEI z włóknem szklanym Kontakt z brązem berylowym Styk pozłacany Rezystancja izolacji 1000 MΩ (przy 500 V DC) Oporność styku 30mΩ (przy 10mA) Temperatura pracy -55°C do 170°C. Trwałość 10000 operacji wkładania Dalsze informacje: | | Typ gniazda IC: | Gniazdo testowe | Typ opakowania: | QFP | Rodzaj: | Żeński | Liczba styków: | 48 | Raster: | 0.5mm | Typ obudowy: | Kątowe | Materiał styków: | Miedź berylowa | Pokrycie styku: | Złoto na niklu | Typ montażu gniazda: | Montaż powierzchniowy | Metoda zakończenia: | Lutowane | Materiał obudowy: | PEI, PES, PSU |
|
| | |
| | | |
| Dalsze słowa kluczowe: gniazdo ic, 3723403, Złącza, Gniazda IC i adaptery, Yamaichi, IC510484806 |
| | |
| |